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短波紅外成像應用-缺陷檢測

發表時間:2021-12-31 15:46

光具有一定的穿透性。在某些半導體行業中,就可以用紅外光較 好的穿透性,去觀測物體內部結構。例如,生產IC電路的公司,可以 用近紅外光去照射IC電路表面,光線可以穿過表面,進入IC電路內部, IC電路內部反射回的光,用近紅外相機去觀測,就可以看到內部是否 有裂痕、空鼓等。


產品特點:

寬波段0.4um-1.7um

超高靈敏度

無損RAW格式

科學級制冷


效果展示:


缺陷檢測.png

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